| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(414767) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4865 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4281 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3908 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3428 |
1.1测试的含义 |
/ | 3680 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3366 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3238 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3141 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4387 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4519 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4564 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4322 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5472 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4110 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3854 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3414 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3323 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3179 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3167 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3239 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4288 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4486 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4468 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4320 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5070 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3690 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3304 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3157 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3238 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3097 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3018 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2991 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4412 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4348 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4255 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4252 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3945 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3443 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3355 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3195 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3111 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3001 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2971 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 2997 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2944 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2883 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2839 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2806 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2787 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2831 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4236 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4277 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4159 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4105 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 3999 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3966 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4094 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3802 |
|
5.1电桥 |
/ | 3125 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3394 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2925 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2939 |
|
5.1电桥 |
/ | 2892 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2826 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2858 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2765 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3859 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4035 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4025 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3928 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3329 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3022 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2962 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2973 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2893 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2739 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2692 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2678 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4011 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3915 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3823 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2846 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2767 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2697 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2702 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2641 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2638 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2617 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2631 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2577 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2546 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2577 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2555 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2564 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2535 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4109 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3762 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3458 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3511 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3314 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3303 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3099 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3045 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3188 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3826 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3778 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3737 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3753 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3677 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3675 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4137 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4175 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4174 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4321 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4080 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4059 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3165 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3161 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3162 |