| 资源(119) | 时长( 08:20:07) | 播放量(416001) |
|---|---|---|
1.1测试的含义 |
/ | 4874 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
/ | 4290 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3917 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3438 |
1.1测试的含义 |
/ | 3689 |
|
1.2 测试基本原理及过程 |
/ | 3376 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
/ | 3247 |
|
1.4测试技术的发展动向 |
/ | 3150 |
1.1测试的含义 |
00:08:15 | 4396 |
|
1.2测试基本原理及过程 |
00:08:55 | 4527 |
|
1.3测试技术的典型应用 |
00:11:12 | 4573 |
|
1.4测试技术的发展方向 |
00:08:38 | 4331 |
|
2.1 信号的分类 |
/ | 5481 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 4119 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3863 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3423 |
|
2.1信号的分类 |
/ | 3332 |
|
2.2信号的描述 |
/ | 3188 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
/ | 3177 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
/ | 3248 |
|
2.1信号的分类 |
00:09:34 | 4296 |
|
2.2信号的描述 |
00:11:11 | 4496 |
|
2.3周期信号与离散频谱 |
00:12:01 | 4477 |
|
2.4瞬变非周期信号的频谱分析 |
00:13:06 | 4329 |
|
3.1 测试系统概述 |
/ | 5078 |
|
3.2 测试系统的静态特性 |
/ | 3698 |
|
3.3 测试系统的动态特性 |
/ | 3312 |
|
3.4 测试系统不失真测试条件及分析 |
/ | 3165 |
|
3.1测试系统概述 |
/ | 3246 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
/ | 3105 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
/ | 3026 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
/ | 2999 |
|
3.1测试系统概述 |
00:12:28 | 4420 |
|
3.2测试系统的静态特性 |
00:09:02 | 4356 |
|
3.3测试系统的动态特性 |
00:10:22 | 4264 |
|
3.4实现不失真测试的条件 |
00:11:17 | 4260 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3953 |
|
4.2压力检测 |
/ | 3451 |
|
4.3位移检测 |
/ | 3363 |
|
4.4速度检测 |
/ | 3203 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3120 |
|
4.6温度检测 |
/ | 3011 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2982 |
|
4.8检测技术综合应用 |
/ | 3008 |
|
4.2压力检测 |
/ | 2954 |
|
4.3位移检测 |
/ | 2892 |
|
4.4速度检测 |
/ | 2849 |
|
4.6温度检测 |
/ | 2816 |
|
4.7环境量检测 |
/ | 2796 |
|
4.8-检测技术综合应用 |
/ | 2841 |
|
4.1检测技术基础 |
00:13:32 | 4247 |
|
4.2压力检测 |
00:11:04 | 4286 |
|
4.3位移检测 |
00:11:15 | 4169 |
|
4.4速度检测 |
00:13:30 | 4115 |
|
4.5物位检测 |
00:13:49 | 4009 |
|
4.6温度检测 |
00:15:12 | 3975 |
|
4.7环境量检测 |
00:15:58 | 4104 |
|
4.8检测技术综合应用 |
00:09:24 | 3812 |
|
5.1电桥 |
/ | 3135 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 3403 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2935 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2949 |
|
5.1电桥 |
/ | 2902 |
|
5.2调制与解调 |
/ | 2836 |
|
5.3滤波器 |
/ | 2869 |
|
5.4AD转换 |
/ | 2775 |
|
5.1电桥 |
00:10:58 | 3869 |
|
5.2调制与解调 |
00:13:52 | 4046 |
|
5.3滤波器 |
00:15:01 | 4035 |
|
5.4AD转换 |
00:13:57 | 3938 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 3339 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 3032 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2972 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2983 |
|
6.1信号的时域分析 |
/ | 2903 |
|
6.2信号的相关分析 |
/ | 2749 |
|
6.3信号的频域分析 |
/ | 2703 |
|
6.4数字信号处理基础 |
/ | 2688 |
|
6.1连续与离散时间信号 |
00:17:33 | 4021 |
|
6.2信号的基本运算 |
00:12:02 | 3925 |
|
6.3数字信号处理基础 |
00:14:21 | 3833 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2857 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2777 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2707 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2712 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2651 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2648 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2627 |
|
7.1振动测试 |
/ | 2641 |
|
7.2温度测试 |
/ | 2587 |
|
7.3噪声测试 |
/ | 2555 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
/ | 2587 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
/ | 2565 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
/ | 2574 |
|
7.7测试过程中的抗干扰技术 |
/ | 2545 |
|
7.1振动测试 |
00:18:35 | 4119 |
|
7.2温度测试 |
00:15:05 | 3772 |
|
7.3噪声测试 |
00:11:07 | 3468 |
|
7.4测试技术在智能楼宇中的应用 |
00:16:43 | 3521 |
|
7.5测试技术在智能手机中的应用 |
00:13:17 | 3325 |
|
7.6测试技术在智能机器人中的应用 |
00:16:09 | 3314 |
|
7.7-1屏蔽-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:41 | 3110 |
|
7.7-2接地-测试过程中的抗干扰技术 |
00:10:58 | 3056 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3199 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3842 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3794 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3753 |
|
8.1现代测试系统的概念和特点 |
/ | 3769 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
/ | 3693 |
|
8.4虚拟仪器 |
/ | 3691 |
|
8.1现代测试系统概念和特点 |
00:08:44 | 4153 |
|
8.2计算机测试系统的基本组成 |
00:08:43 | 4192 |
|
8.3-1测试总线与接口技术 |
00:11:23 | 4190 |
|
8.3-2USB总线技术 |
00:13:07 | 4337 |
|
8.4-1虚拟仪器 |
00:07:54 | 4096 |
|
8.4-2labview概述 |
00:10:12 | 4076 |
|
4.1检测技术基础 |
/ | 3181 |
|
4.5物位检测 |
/ | 3176 |
|
8.3测试总线与接口技术 |
/ | 3179 |